Ellipsometry sensitivity to the size distribution of Si nanocrystals
Titre de la revue et éditeur:
7th International Conference on Surfaces, Coatings and Nanostructured Materials", NANOSMAT-7, 22-25 September , Granada, Spain
Type:
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
25/09/2013
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux