Ellipsometric demonstration of the existence of a strong correlation between size distribution and optical responses of silicon nanoclusters in a nitride matrix
Titre de la revue et éditeur:
Applied Physics Letters
Type:
Articles répertoriés avec comité de lecture (Actes de conférences précisés)
Etat:
Publiée
Pages:
Langue de l'article:
EN
N° Volume:
99
N° article:
131903
Date:
26/09/2011
Lien doi:
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux