Determination of the optical properties and size dispersion of Si nanoparticles within a dielectric matrix by spectroscopic ellipsometry
Titre de la revue et éditeur:
Journal of Applied Physics
Type:
Articles répertoriés avec comité de lecture (Actes de conférences précisés)
Etat:
Publiée
Pages:
1-12
Langue de l'article:
en
N° Volume:
116
N° article:
10
Date:
23/08/2014
Lien doi:
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux