Plasmonic properties of implanted Ag nanoparticles in SiO2 thin layer by spectroscopic ellipsometry
Titre de la revue et éditeur:
Journal of Applied Physics
Type:
Articles répertoriés avec comité de lecture (Actes de conférences précisés)
Etat:
Publiée
Langue de l'article:
EN
N° Volume:
122
N° article:
8
Date:
01/08/2017
Lien doi:
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux