Nanometrology of semiconducting quantum dots and metallic nanoparticles
Titre de la revue et éditeur:
China-France Workshop on Advanced Materials (CFWAM), 2014, November 9-12th, Wuhan
Type:
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
09/11/2014
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux