Influence of the defect chemistry on the absorption edge in sputtered ZnO thin films
Titre de la revue et éditeur:
19th International Vacuum Congress, IVC-19, 9-13 September , Paris
Type:
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
09/09/2013
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux