Determination of the Optical Properties of Implanted Ag Nanoparticles in SiO2 Thin Layer by Spectroscopic Ellipsometry
Titre de la revue et éditeur:
7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7), June 06-10, 2016, Berlin
Type:
Communications par affiche dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
06/06/2016
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux