Ellipsométrie infrarouge à large gamme spectrale (1.7-35 µm) appliquée aux films minces et nanostructurés de semi-conducteurs – IRSE
Le présent projet consiste à répondre à un nouveau besoin en caractérisation optique non conventionnelle d’échantillons complexes tels que les matériaux nanostructurés présentant, par exemple, des dispersions de taille et/ou de forme ou sous format de nanotubes ou de nanofils, des alliages massifs, des films minces nanostrcutés. La sophistication et la complexité des structures étudiées actuellement dans différents domaines d’applications (électronique, optique, traitements de surfaces, énergie, etc.) nécessitent des outils de contrôle et de caractérisation non destructifs et d’une grande sensibilité. Dans ce projet, nous envisageons d’étudier par Ellipsométrie Infrarouge des matériaux massifs (collaboration interne LCP-A2MC), des films minces (IJL), des nanocristaux dopés (IJL) et des nanotubes de carbone via la mesure de leurs fonctions diélectriques. Outre les propriétés optiques de matériaux étudiés, l’ellipsomètre infrarouge rendrait possible l’accès sans contact à leurs propriétés électroniques (Gap, mobilité, résistivité électrique).
La détermination des réponses plasomoniques de certains films nanocomposites est également envisageable.
COORDINATION DU PROJET
Aotmane EN NACIRI
Laurent BROCH
PARTENAIRES
Etat
Région Grand Est
FEDER
Département 57
EuroMétropôle de Metz
LCP-A2MC
IJL
Début et durée du projet scientifique : 2021-2027