Soft ionization mass spectrometry: a complementary analysis technique in quantum dot metrology
Titre de la revue et éditeur:
PAMO-JSM 2012, Metz 3-6 Juillet
Type:
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
03/07/2012
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux