Rapid ellipsometric imaging characterization of nanocomposite films with an artificial neural network
Titre de la revue et éditeur:
Optics Letters
Type:
Articles répertoriés avec comité de lecture (Actes de conférences précisés)
Etat:
Publiée
Pages:
574-577
Langue de l'article:
EN
N° Volume:
49
Date:
23/01/2024
Lien doi:
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux