Ellipsometry study of optical properties of single silicon nanocrystal layers with uniform sizes
Titre de la revue et éditeur:
EMRS2012 (European Materials Research Society), 14-18 mai à Strasbourg
Type:
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article:
EN
Date:
14/05/2012
Equipe / Pôle de recherche:
Nanomatériaux