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Une école de l'Université de Lorraine

Electronic properties of ZnTe(S) nanocomposites in SiO2 films by variable angle spectroscopic ellipsometry

Electronic properties of ZnTe(S) nanocomposites in SiO2 films by variable angle spectroscopic ellipsometry

Titre de la revue et éditeur: 
ICCE-21 Twenty-first Annual International Conference on Composites Engineering, 21-27, July , Tenerife, Spain
Type: 
Communications orales dans un congrès national ou international
Langue de l'article: 
EN
Date: 
21/07/2013
Equipe / Pôle de recherche: 
Nanomatériaux